ET教育用EddyPortableFX

上置プローブによる探傷

上置プローブによる検査では、インピーダンス変化は表示画面X-Y軸の直交座標で示されます。
この機器では表示画面のY：X比、X軸およびY軸の原点移動や、ストレージ（残光）機能がありますので、リフトオフノイズが大きい上置プローブの信号も的確にとらえることができます。

内挿プローブによる探傷

内挿プローブによる検査では、プローブのインピーダンス変化は極座標で表示されます。
画面の右下にはきず信号の位相角が自動的に表示され、試験体の減肉率ときず信号の位相角の関係を表すきず評価曲線を簡単に作成することができます。また、試験周波数の設定が1～999kHzと広範囲であり、試験周波数と浸透深さの関係を確認できます。検査器のX軸、Y軸出力端子に2ペンレコーダーを接続することにより、ベクトル表示と時間軸表示の関係を直接見ることが可能です。

貫通プローブによる探傷

貫通プローブによる検査では、プローブのインピーダンス変化が左画面にはベクトル表示、右画面にはY軸（縦軸）成分が時間軸表示されます。
きず信号のベクトル表示と時間軸表示を同時に確認する事ができるので、それらの関係を理解し易くなっております。 画面の右下にはきず信号の振幅率が表示されますので、対比試験片を用いてペンレコーダー上で感度設定しやすくなっています。